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产品说明
1、 本测试仪针对大功率LED芯片,配合自动生产线实现大功率LED电特性、光特性的高精度高速检测。
2、 不仅通常的mA级,在uA级或100mA以上通电时,均能达到高精度高速测试。
3、 具有高性能的通电保护回路设计,忠实反映客户所设定的加电值和加电时间。
4、 采用专业级波长仪结合积分球方式, 充分保证了LED光学特性的测试精度。
主要技术参数
ZWL-PT11-350HV |
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基本功能 |
可最大测试350mA/55V 以下LED产品的电性和光学特性 |
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对应LED品种 |
单晶LED 、多晶LED(2pin) |
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测试项目数和分类 |
单次连续测试最大128项目,最大分类128bin(可扩展) |
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测试项目 |
POL极性判断、VF正向电压、IF正向电流、VR反向电压、IR反向电流 |
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项目名称 |
驱动条件 |
电性测量 |
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量程 |
驱动绝对精度 |
检测范围 |
检测绝对精度 |
|
VF、VR |
3.5uA(0.001~3.5000uA) |
±0.6% of setting ±0.02uA |
0.001V~55.00V |
同驱动精度 |
35uA(3.5~35.000uA) |
±0.3% of setting ±0.03uA |
|||
350uA(35~350.00uA) |
±0.3% of setting ±0.2uA |
|||
3.5mA(0.35~3.5000mA) |
±0.3% of setting ±0.002mA |
|||
35mA(3.5~35.000mA) |
±0.3% of setting ±0.02mA |
|||
350mA(35~350.00mA) |
±0.3% of setting ±0.2mA |
|||
IF、IR |
10V(0.001~10.000V) |
±0.3% of setting ±0.03V |
0.001uA~350mA |
同驱动精度 |
55V(0.01V~55.00V) |
±0.3% of setting ±0.05V |
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项目名称 |
光学测量 |
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测试范围 |
测试精度 |
重复精度 |
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φv |
1~10000lm |
±2% of Range |
±0.2% of Range |
|
CCT |
1~100000K |
±2% |
±5% |
|
CIE-x、y |
0.001~1 |
±0.003 |
±0.001 |
|
SDCM |
0.001~99.999 |
±1 |
±0.3 |
|
Ra |
0~100 |
±1 |
±0.2 |
|
λd |
380nm~780nm |
±0.5nm |
±0.2nm |
|
λp |
380nm~780nm |
±0.3nm |
±0.1nm |
|
电源 |
220V/50Hz |
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重量 |
20Kg |
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尺寸 |
W440xH180xD510mm |